Microscopy SA

𝗧𝗿𝗮𝗯𝗮𝗷𝗮𝘀 𝗰𝗼𝗻 𝗺𝗮𝘁𝗲𝗿𝗶𝗮𝗹𝗲𝘀 𝗽𝗮𝗿𝗮 𝗯𝗮𝘁𝗲𝗿í𝗮𝘀 𝗼 𝗰𝗶𝗲𝗻𝗰𝗶𝗮 𝗱𝗲 𝗺𝗮𝘁𝗲𝗿𝗶𝗮𝗹𝗲𝘀 𝗮𝘃𝗮𝗻𝘇𝗮𝗱𝗮?
No te pierdas este interesante de Instruments donde junto a expertos, descubrirás cómo la tecnología BEX — que combina imágenes de electrones retrodispersados y rayos X en tiempo real — está cambiando para siempre el análisis elemental en el SEM!🔬

Aprenderás cómo caracterizar fases complejas, detectar contaminantes en polvos de electrodos y analizar materiales de próxima generación con una resolución y velocidad sin precedentes.

📢 Están todos invitados!
📅 𝗠𝗮𝗿𝘁𝗲𝘀 𝟮𝟭 𝗱𝗲 𝗔𝗯𝗿𝗶𝗹 | W𝗲𝗯𝗶𝗻𝗮𝗿 𝗢𝗻𝗹𝗶𝗻𝗲 | 𝗚𝗿𝗮𝘁𝘂𝗶𝘁𝗼
Regístrate sin cargo y asegura tu lugar!👉 https://events.ringcentral.com/events/advanced-eds-elemental-analysis-in-sem-using-bex-technology-application-to-material-science-and-battery-materials-2026-04-21

🚀Nuevo lanzamiento de ZEISS Microscopy! Conoce el 🔬𝗖𝗿𝗼𝘀𝘀𝗯𝗲𝗮𝗺 𝟳𝟱𝟬 𝗙𝗜𝗕-𝗦𝗘𝗠; microscopía de enfoque iónico llevada al siguiente nivel.

𝗣𝗼𝗿 𝗽𝗿𝗶𝗺𝗲𝗿𝗮 𝘃𝗲𝘇 𝗽𝘂𝗲𝗱𝗲𝘀 𝘃𝗲𝗿 𝗲𝗻 𝘁𝗶𝗲𝗺𝗽𝗼 𝗿𝗲𝗮𝗹 𝗹𝗼 𝗾𝘂𝗲 𝗲𝘀𝘁𝗮́𝘀 𝗳𝗿𝗲𝘀𝗮𝗻𝗱𝗼. Gracias a la óptica Gemini 4 y al sistema HDR Mill + SEM, tienes imagen de alta resolución continua mientras preparas tus muestras — sin pausar, sin adivinar.

Es el nuevo estándar en preparación de láminas TEM para semiconductores avanzados.
▶️ Láminas TEM sub-20 nm con correcciones en vivo de FIB y SEM
▶️ Control de endpoint confiable → protegé estructuras críticas sin riesgo
▶️ Flujos de trabajo automatizados por recetas para múltiples muestras
▶️ Análisis integrado con IA a través de ZEISS arivis

𝗩𝗲𝗿 𝗺𝗶𝗲𝗻𝘁𝗿𝗮𝘀 𝘀𝗲 𝗳𝗿𝗲𝘀𝗮. 𝗖𝗼𝗿𝗿𝗲𝗴𝗶𝗿 𝗲𝗻 𝘁𝗶𝗲𝗺𝗽𝗼 𝗿𝗲𝗮𝗹. 𝗢𝗯𝘁𝗲𝗻𝗲𝗿 𝗿𝗲𝘀𝘂𝗹𝘁𝗮𝗱𝗼𝘀 𝗿𝗲𝗽𝗿𝗼𝗱𝘂𝗰𝗶𝗯𝗹𝗲𝘀, 𝘀𝗶𝗲𝗺𝗽𝗿𝗲! Ideal para investigación en semiconductores, nanofabricación y análisis estructural de materiales avanzados.

ℹ️ Más info + Doc Técnico👉 https://www.zeiss.com/microscopy/en/c/smc/26/crossbeam-750-fib-sem.html
Consultas: 📩 [email protected]